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    • PCT加速老化試驗機
      PCT加速老化試驗機

      PCT加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

      時間:2020-05-29型號:瀏覽量:733
    • PCT高壓壽命試驗機
      PCT高壓壽命試驗機

      PCT高壓壽命試驗機主要作用是用來測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.

      時間:2020-05-29型號:瀏覽量:729
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