• <samp id="8mse6"></samp>
  • <label id="8mse6"><object id="8mse6"></object></label>
  • <xmp id="8mse6">
  • 產品展示 / products 您的位置:網站首頁 > 產品展示 > PCT高壓加速老化試驗機 > 飽和加速壽命試驗箱
    • 飽和型加速壽命試驗機
      飽和型加速壽命試驗機

      飽和型加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

      時間:2020-06-15型號:瀏覽量:756
    共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉到第頁 

    聯系我們

    contact us

    掃一掃,關注我們

    返回頂部




    性欧美xxxx乳_日本欧美大码a在线观看_12一14性xxxxx_公交车np粗暴h强j