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    溫沖應力篩選試驗箱

    溫沖應力篩選試驗箱

    簡要描述:溫沖應力篩選試驗箱對不同電子構件,在實際使用環境中遭遇的溫度條件,改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產生非使用狀態的破壞試驗。

    產品型號:

    所屬分類:溫度沖擊應力篩選試驗箱

    更新時間:2020-06-13

    廠商性質:生產廠家

    詳情介紹

    溫沖應力篩選試驗箱賽思改變了傳統進行溫度循環、高低溫沖擊(2箱)、高低溫+常溫沖擊(3 箱)、應力篩選ESS,至少需要購買四臺設備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設備才能完成的試驗,需耗費許多添購設備占用空間的硬件成本, 一次解決您的需求,滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性,提高機臺使用的稼動率。并且不需再依不同待測品去耗費時間手動調整,我們的創新系統自動幫您搞定,賽思秉持著符合規范的原則,結合貼心的創新功能與技術,期待您詳細了解。

    溫沖應力篩選試驗箱特點:

    1.可執行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能;2.等均溫速率可設定范圍5℃~30℃/min(40℃/min);3.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求;4.采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行;5.除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成;6.通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能;7.感測器放置測試區出(回)風口符合實驗有效性;8.機臺多處報警監測,配置無線遠程報警功能;

    標準:滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。

    產品&規范

    廠商名稱

    高溫

    低溫

    溫變率

    循環數

    循環時間

    備注

    MIL-STD-2164、GJB-1032-90
    電子產品應力篩選

    ——

    工作極限溫度

    工作極限溫度

    5℃/min

    10~12

    3h20min

    ——

    MIL-344A-4-16
    電子設備環境應力篩選

    設備或系統

    71℃

    -54℃

    5℃/min

    10

    ——

    ——

    MIL-2164A-19
    電子設備環境應力篩選方法

    ——

    工作極限溫度

    工作極限溫度

    10℃/min

    10

    ——

    駐留時間為內部達到溫度10℃時

    NABMAT-9492
    美軍制造篩選

    設備或系統

    55℃

    -53℃

    15℃/min

    10

    ——

    駐留時間為內部達到溫度5℃時

    GJB/Z34-5.1.6
    電子產品定量環境應力篩選指南

    組件

    85℃

    -55℃

    15℃/min

    ≧25

    ——

    達到溫度穩定的時間

    GJB/Z34-5.1.6
    電子產品定量環境應力篩選指南

    設備或系統

    70℃

    -55℃

    5℃/min

    ≧10

    ——

    達到溫度穩定的時間

    筆記本電腦

    主板廠商

    85℃

    -40℃

    15℃/min

    ——

    ——

    ——

     

    應力范圍:

    TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

     

    30℃/min→

    電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗

    28℃/min→

    LED汽車照明燈

    25℃/min→

    PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

    24℃/min→

    光纖連接頭

    20℃/min→

    IPC-9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號 比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命

     

    17℃/min→

    MOTO

    15℃/min→

    IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、 汽車引擎蓋下環境)

    11℃/min→

    無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

    10℃/min→

    通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試

    5℃/min→

     

    錫須溫度循環試驗

    技術規格:

    型號

    SER-A

    SER-B

    SER-C

    SER-D

    內箱尺寸
    W x D x H cm

    40×35×35

    50×50×40

    60×50×50

    70×60×60

    外箱尺寸
    W x D x H cm

    140×165×165

    150×200×175

    160×225×185

    170×260×193

    溫度范圍

    -80.00℃~+200.00℃

    低溫沖擊范圍

    -10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

    高溫沖擊范圍

    +60.00℃~+150.00℃

    時間設定范圍

    0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

    溫度波動度

    ≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

    溫度偏差

    ≤±2℃(-65℃~+150℃)

    溫度均勻度

    <2.00℃以內

    溫變速率(斜率)

    +5℃~+30℃/min(+40℃)

    溫變范圍

    -55℃~+85℃//+125℃



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