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    • PCT高压加速寿命试验
      PCT高压加速寿命试验

      PCT高压加速寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCTZ主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。

      时间:2020-06-15型号:浏览量:679
    • 饱和型加速寿命试验机
      饱和型加速寿命试验机

      饱和型加速寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCTZ主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。

      时间:2020-06-15型号:浏览量:756
    • PCT加速老化试验机
      PCT加速老化试验机

      PCT加速老化试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。

      时间:2020-05-29型号:浏览量:733
    • PCT高压寿命试验机
      PCT高压寿命试验机

      PCT高压寿命试验机主要作用是用来测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体.

      时间:2020-05-29型号:浏览量:729
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